Stručný popis předmětu:
Část 1
Zařízení tzv. duální iontový a elektronový mikroskop (FIB-SEM) pracující v běžných a po rozšíření o kryogenní stolek (část 2 VZ) i v kryogenních podmínkách vhodný pro: 3D objemovou strukturální a prvkovou analýzu všech typů vodivých i nevodivých materiálů,
Část 2
Kryogenní stolek pro FIB-SEM s příslušenstvím
více viz. zadávací dokumentace
Nabídky, resp. žádosti o účast podávat na:
prostřednictvím elektronického nástroje E-ZAK (https://ezak.ujep.cz)
Kvalifikační dokumentace není poskytována (resp. je součástí zadávací dokumentace).
Zadávací dokumentace je poskytována elektronicky bez omezení.
Název | Popis | Jméno souboru | Velikost |
---|---|---|---|
Zadávací dokumentace | Zadávací dokumentace |
![]() |
3.79 MB |
příloha č. 1 závazný návrh smlouvy | příloha č. 1 závazný návrh smlouvy |
![]() |
160.04 KB |
příloha č. 2 - čestné prohlášení | příloha č. 2 - čestné prohlášení |
![]() |
218.84 KB |
příloha č. 3 - technická specifikace | příloha č. 3 - technická specifikace |
![]() |
29.24 KB |