|
DOTAZ:
Vážení,
žádáme Vás o úpravu příloh zadávací dokumentace (Technická specifikace a na ně navazující dokumenty) k zakázce s názvem „Rozšířitelná platforma rentgenové fotoelektronové spektroskopie 2024/0119“ (systémové číslo: P24V00000128)
Úvod k dotazu č. 1:
V Technické specifikaci je definován požadavek na integrovanou metodu Ion Scattering Spectroscopy (ISS). Naše řešení využívá pro zisk povrchových dat s vysokou citlivostí jiný přístup, StrataPHI, kdy vypočítáváme tloušťku každé diskrétní vrstvy ve vícevrstvém systému nedestruktivně ze spekter XPS (a HAXPES o který lze systém v budoucnu rozšířit) při jednom nebo více úhlech vzletu (TOA), čímž odpadá nutnost destruktivního hloubkového profilování rozprašováním. Toto řešení nabízí data ekvivalentní analytickým technikám ISS/LEIS s využitím základního systému XPS bez potřeby dalšího hardwaru. Dalšími výhodami takového přístupu je měření bez nutnosti blank vzorku, měření více vrstvých vzorků současně (bez omezení jen na monovrstvu, jako u ISS), současný zisk dat pomocí StrataPHI a fractional coverage analysis (komplexní výsledky pomocí jediného testu) či zisk dat z různě velkých ploch (řízeno šířkou rentgenového svazku, která může být ≤ 5 μm, oproti požadovaným ≤ 20 μm), místo omezení ISS kde je velikost definována použitým iontovým svazkem.
Nabízený systém je navíc velmi modulární a rozšiřitelný. Nabízí uložení vzorků až 80x80 mm (s min. dvěma parkovacími pozicemi uvnitř komory, pro automatizované měření) a mimo požadovaného i rozšíření o HAXPES, Skenovací Auger spektroskopii, LEIPS, cold stage a při vhodném umístění přírub i PM-IRRAS.
Dotaz č. 1:
Bude zadavatel akceptovat dodávku zařízení, které místo ISS, nabízí jinou povrchově citlivou metodu, jako například popsaná technika StrataPHI?
Úvod k dotazu č. 2:
V Technické specifikaci je definován požadavek na nejméně tří různě orientované CCD kamery k náhledu na místo analýzy na vzorku a k nastavení výšky vzorku.
Naše řešení obsahuje dvě CCD kamery a navíc rentgenovým svazkem indukované sekundární elektronové zobrazování (Secondary Electron Imaging, SXI). Tato kombinace umožňuje přesné nastavení měřících parametrů a 100% přesnost vymezení oblasti analýzy bez jakéhokoli typu kalibrace. SXI je unikátní skenovací rentgenová metoda, která umožňuje navigaci podobnou SEM s ovládáním typu "point and click" a nabízí tak dokonalou korelaci mezi zobrazovanou plochou a simultánně získávanou spektroskopií.
Dotaz č. 2:
Bude zadavatel akceptovat dodávku zařízení, které disponuje dvěma CCD kamerami a jiným dalším zobrazovacím mechanismem, jako například SXI?
ODPOVĚĎ:
Rozsah a odbornost žádosti o vysvětlení zadávací dokumentace si vyžaduje podrobné zpracování odpovědi na žádost.
Z tohoto důvodu budou odpovědi na žádost o vysvětlení zadávací dokumentace uveřejněny po výše uvedeném posouzení.
|
English
čeština